絕緣層上的金屬薄膜電阻式厚度檢測技術
它可以在短時間內（0.7秒）以高精度測量絕緣層（印刷電路板的銅箔、鍍層等）上的金屬膜。
使用個人計算機時，屏幕大、明亮且易于查看。
易于校準和測量。可以選擇兩種測量范圍（2 至 24 μm、10 至 120 μm）。
直方圖、配置文件和 xR 圖表在統計處理后總是立即可用。
如果您設置了薄膜厚度的上限和下限，您將收到異常值的通知。
可以為每個通道保存測量數據，以后可以為測量數據設置統計項目進行統計處理。
由于您最多可以注冊 40 個頻道，因此您可以通過根據用戶名或部件號單獨注冊來管理頻道。
印刷線路板、
電子設備、電子元件
照明/電氣設備零件，NC / NF
| 模型（主體） | RST-231型 |
|---|---|
| 測量原理 | 4探針電阻式 |
| 測量范圍 | 2～24μm、10～120μm |
| 通道數 | 40 個頻道 |
| 數據容量 | 100,000 條數據 |
| 展示 | 視電腦顯示器屏幕而定 |
| 統計處理 | 最大值、最小值、平均值、標準偏差、直方圖、上下限設置 |
| 電源供應 | AC100 ~ 240V, 50 / 60Hz 10VA (主機) |
| 尺寸 | 280 (W) x 230 (D) x 88 (H) 毫米（主體） |
| 配件 | 4探頭測頭KD-110 標準板TCU-145 |
| 搜索間隔 | 探頭頂端 | |
| KD-110 | 1毫米 | 0.1R * 標準品 |
| KD-105 | 1毫米 | 0.05R |
| KD-120 | 1毫米 | 0.2R |
| KD-210 | 2mm | 0.1R |
| KD-220 | 2mm | 0.2R |
