半導體材料電阻檢測設備-日本napson便攜式電阻檢測儀EC-80P

半導體材料電阻檢測設備-日本napson便攜式電阻檢測儀EC-80P

產品特點

• 只需觸摸手持式探頭即可測量電阻。
• 在電阻/薄層電阻測量模式之間輕松切換
• 使用JOG撥盤輕松設置測量條件
• 連接到連接器的可替換電阻測量探頭可支持多種電阻
• （電阻探頭：多可以使用2 + PN判斷探頭）

測量規格

測量目標

半導體/太陽能電池材料相關（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與半導體相關的注入樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請與我們聯系）

測量尺寸

無論樣品大小和形狀如何均可進行測量（但是，大于20mmφ且表面平坦）

測量范圍

[電阻] 1m至200Ω? cm
（*所有探頭類型的總量程/厚度500um）
[抗剪強度] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總量程）

*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至0.05Ω-cm）
（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-??cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
（5）太陽能晶片：5至500Ω/□（0。 2至15Ω-cm）